행사/교육
Leica SEM 관찰을 위한 시료 단면/표면 처리 Workshop
- 등록일2016-09-08
- 조회수7353
- 구분 국내
- 행사교육분류 행사
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주관기관
(주)라이카코리아
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행사장소
(주)라이카코리아 6층 세미나실
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행사기간
2016-09-28 ~ 2016-10-27
- 원문링크
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첨부파일
SEM 관찰을 위한 시료 단면 또는 표면 처리 Workshop
오는 9월, 10월에 총 3회에 걸쳐 이온 빔 밀링 시스템을 이용한 시료 단면 또는 표면처리 Workshop을
준비하였습니다. 시료 전처리의 기본 이론 및 데모 장비를 활용한 심화 실습을 함께 진행할 예정이오니,
많은 관심과 참여 부탁드립니다.
신청방법
9월 23일(금)까지 상기 "Register Today!" 클릭하시어 신청서 양식에 맞춰 작성/등록 하시기 바랍니다.
진행 일자 (택 1)
1차 : 9월 28 - 29일 l 2차 : 10월 12 - 13일 l 3차 : 10월 26 - 27일
Time Session
1st Day
10:30~12:00
[이론] 이온 빔 밀링을 이용한 시료 단면. 표면 처리 방법 소개
- TXP→ TIC 3X→ACE600 workflow for SEM analysis
12:00~13:00
점심
13:00~17:00
[실습] 이온 빔 밀링을 위한 시료 단면 처리 방법
- TXP를 이용한 mechanical polishing
- TIC 3X를 이용한 ion beam milling (cross section)
2nd Day
10:00~12:00
[실습] 이온 빔 밀링을 위한 표면 처리 방법
- TIC 3X를 이용한 ion beam milling (flat milling)
12:00~13:00
점심
13:00~16:00
[실습] 광학현미경을 통한 시료 결과 확인 후 전도성 층 코팅
- DM 2700M & ACE 600
16:00~16:30
질의 및 응답
장소 : 라이카코리아 6층 세미나실
참가비 : 무료 (점식, 교재 제공)
문의 : ㈜ 라이카코리아 02-514-6543, 02-3416-4422, 4424
* 실습 위주의 workshop으로 인원수 제한에 따른 선착순 마감될 수 있습니다.
* 주차비 별도 지원되지 않으며, 차량 이용시 주차비가 많이 발생되므로 대중교통을 이용해 주시기 바랍니다.
...................(계속)
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